Testing Sequence Dependent Defects
Описание

Testing Sequence Dependent Defects

Артикул Маркета
5951594098
Внешний вид товаров и/или упаковки может быть изменён изготовителем и отличаться от изображенных на Яндекс Маркете.
Пэй
2 113
–40%
200
С доставкой по клику
Заказ от 1500₽
Testing Sequence Dependent Defects
Testing Sequence Dependent Defects
Пэй
2 113
–40%
Доставка Маркета
27 сен, по клику  0
Москва
27 сен, пункт выдачи  0
Москва
Быстрый возврат
О возвратах
Т8 Издательские Технологии
Магазин
4.7 1.2K оценок
19Kзаказов
587подписчиков
6лет на Маркете

О товаре

Описание

Печатная книга «Testing Sequence Dependent Defects» в мягкой обложке, язык - английский. В книге 116 страниц, она напечатана на белой офсетной бумаге плотностью 80 г/м². Формат издания — 152x229 мм. Все книги аккуратно упаковываем в прочный трёхслойный непрозрачный картонный конверт.
With new technologies that continue to shrink the feature size of integrated circuits into deep sub-micron domain, there is an increasingly higher incidence of sequence dependent defects during manufacturing. Two-pattern tests are therefore being used in manufacturing testing to supplement the traditional method of single pattern tests based on the stuck-at fault model. In this work we present methods of generating and applying two-pattern test sets to enable high quality and cost effective testing of sequence dependent defects such as transition delay faults, transistor stuck-open faults etc.

Характеристики

Артикул Маркета
5951594098
Внешний вид товаров и/или упаковки может быть изменён изготовителем и отличаться от изображенных на Яндекс Маркете.Возрастное ограничение 18+

Нет отзывов и оценок

Но можно задать вопрос, чтобы узнать о товаре больше

Рекомендуем

Часто покупают

Войдите в аккаунтИ тогда откроется корзина, а цены на Маркете могут стать ниже